Kielce stały się miejscem spotkania metrologów z całej Europy. W ciągu dwóch dni odbywa się konferencja dotycząca sztucznej inteligencji z udziałem czołowych przedstawicieli instytucji metrologicznych z krajów Unii Europejskiej oraz partnerów z Ukrainy i Kazachstanu. Wydarzenie ma miejsce w Muzeum Narodowym oraz na terenie Świętokrzyskiego Kampusu Laboratoryjnego GUM. Eksperci poruszają zagadnienia związane z nowoczesnymi technologiami i ich wpływem na metrologię.
Konferencja jest częścią wydarzeń związanych z polską prezydencją w Unii Europejskiej, co podkreśla znaczenie współpracy międzynarodowej w obszarze metrologii. Uczestnicy konferencji, w tym dwudziestu liderów narodowych instytutów metrologii, dzielą się doświadczeniami i analizują aktualne wyzwania, jakie stawia przed nimi rozwój technologii. Spotkanie jest platformą do wymiany wiedzy na temat zastosowania sztucznej inteligencji w metrologii.
W ramach prelekcji omawiane są kluczowe tematy, takie jak rola sztucznej inteligencji w produkcji zaawansowanej oraz wykorzystanie nowoczesnych metod pomiarowych dla zdrowia. Ekspert, profesor Jacek Semaniak, podkreśla znaczenie tych dyskusji, zwracając uwagę na trudności analizy dużych zbiorów danych bez wsparcia, jakie oferują nowe technologie. Konferencja w Kielcach staje się zatem istotnym krokiem w kierunku innowacji w dziedzinie metrologii.
Źródło: Urząd Miasta Kielce
Oceń: Międzynarodowa konferencja metrologów w Kielcach
Zobacz Także
